Skanująca Sonda Kelvina pozwala na pomiar pracy wyjścia elektronu z powierzchni materiałów zarówno półprzewodnikowych jak i przewodzących nie tylko w jednym punkcie powierzchni próbki lecz na całym jej obszarze.
Sonda Kelwina wyposażona w źródło światła pozwala badać stany powierzchniowe elektronów na próbce. Stany powierzchniowe elektronów odgrywają decydującą rolę w transferze ładunku elektrycznego , co jest szczególnie istotne w przypadku materiałów fotowoltaicznych oraz w fotoelektrochemii.
Możliwość skanowania powierzchni próbki i badania jej właściwości elektrycznych pozwala na precyzyjną ocenę jakości materiału, jego jednorodności oraz na zebranie serii pomiarów pozwalających z większą dokładnością ocenić parametr pracy wyjścia materiału.
Skanująca Sonda Kelwina pozwala na wyznaczenie rozkładu ładunków na powierzchni badanego materiału – w tym dielektryków! Opracowana metoda pomiarowa oraz konstrukcja urządzenia czyni je unikalnym i bezkonkurencyjnym w badaniu naładowanych powierzchni dielektrycznych. System umożliwia pomiar rozkładu ładunków elektrostatycznych na powierzchni o wartościach do kilku kV!

Urządzenie składa się z sondy na statywie, elektroniki sterującej i klatki Faradaya.
Końcówka sondy to element zaprojektowany i wykonany przez Instytut Fotonowy Sp. z o.o.
Drgania końcówki generowane są z wykorzystaniem elektromagnesu.
kliknij obrazek, aby powiększyć


Zestaw wyposażony jest w dwa rodzaje statywów:


Na całą sondę Kelvina zakładana jest klatka Faradaya ekranująca ją od otoczenia. Na klatce zamontowano gniazdo uziemiające.
kliknij obrazek, aby powiększyć
Poniższa specyfikacja sondy Kelvina może ulec zmianom w miarę rozwoju urządzenia.
| Zakres napięć | -5 V .. 5 V |
| Rozdzielczość nominalna pomiaru napięć | 0.15 mV |
| Technika pomiaru | 2-kanałowy wzmacniacz fazoczuły |
| Uchwyt próbek | stolik przesuwny X-Y zmotoryzowany, |
| Statyw na próbkę | statyw na próbkę w formie warstwy / statyw mocujący próbkę stałą |
| Zakres ruchu stolika | 5 cm x 5 cm |
| Min krok próbki | 1 µm |
| Typ sondy | siatka Au, śr. 2.5 mm |
| Dojazd sondy | stolik przesuwny Z, zmotoryzowany |
| Sposób pozycjonowania względem próbki | bariera świetlna |
| Rozdzielczość pozycjonowania sondy | 10 µm |
| Zakres spektralny | 200 nm .. 2000 nm (zależnie od wybranego światłowodu) |
| Wybór światłowodów (Lumatec) | ![]() |
| Dodatkowe czujniki | wilgotności i temperatury |
| Oświetlenie wewnątrz klatki | biały LED |
| Pozycjonowanie X-Y | wskaźnik laserowy |
| Komunikacja z komputerem | USB 2.0 |
| Rozmiar | 40 x 40 x 45 cm |
| Waga | 15 kg |
Rozkład potencjału elektrycznego na powierzchni PTFE na podłożu aluminiowym :
kliknij obrazek, aby powiększyć